Analisi strutturale di film di GdSr2RuCu2O8
Autore
Marianna Lorenzo - Università degli Studi di Salerno - [2004-05]
Documenti
Abstract
Lo scopo di questo lavoro di tesi è stato lo studio mediante diffrazione di raggi X per l’analisi della struttura di film di GdSr2RuCu2O8 cresciuti per sputtering su substrati di SrTiO3. All’interno della tesi vi è una descrizione delle proprietà strutturali del GdSr2RuCu2O8. In particolare dalla letteratura corrente è stata analizzata la presenza di fasi spurie al variare delle condizioni di sintesi, sia per campioni sotto forma di bulk sia sotto forma di film sottile. Infine, vi è una sintesi dei difetti che è possibile trovare all’interno dei cristalli. Si è illustrata l’analisi strutturale mediante diffrazione ai raggi X. Sono brevemente descritte le proprietà del reticolo diretto e del reticolo reciproco, e le relazioni che li legano. Inoltre vi è una descrizione particolareggiata del diffrattometro a quattro cerchi ad alta risoluzione nella configurazione a triplo asse, utilizzato per lo studio della struttura cristallina dei film. Infine, sono riportati i principali risultati sperimentali ottenuti. Questi hanno permesso di ricavare i valori dei parametri reticolari del film e di evidenziare la sua qualità.
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