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Stefano Crimi' - Università degli Studi di Palermo - [1998-99]

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Tesi completa: 129 pagine

Nel campo dell'elettronica di potenza è in atto un enorme sforzo tecnologico ed economico mirato a realizzare su un unico chip tutte le funzioni di cui un moderno sistema elettronico necessita, sia relativamente alla parte di controllo sia a quella di potenza. Una conseguenza dell'integrazione sullo stesso chip della parte di potenza e di quella di controllo è l'interferenza causata dalla prima alla seconda; pertanto nel campo dell'industria elettronica è molto sentita la necessità di studiare e comprendere i fenomeni parassiti che possono innescarsi in tali circuiti integrati.
In questo lavoro di tesi è stata effettuata una caratterizzazione completa, in condizioni statiche e dinamiche, dei parassiti bipolari nel processo BCD5 realizzato nei laboratori della STMicroelectronics di Cornaredo (MI).
In particolare, l'attenzione è stata focalizzata sui parassiti npn e pnp che possono attivarsi durante il pilotaggio di un carico induttivo mediante una configurazione a ponte (h-bridge).
I risultati sperimentali, sempre accompagnati da una analisi fisica che li giustificasse, sono stati di aiuto all'azienda al fine di migliorare le caratteristiche del processo, limitando al minimo gli effetti indesiderati causati dalla coesistenza delle due sezioni di controllo e potenza.