Analisi di quantum dots mediante microscopia Ns-Afm
Autore
Sergio Capoleoni - Università degli Studi di Roma La Sapienza - [1999-00]
Documenti
Abstract
Mediante un microscopio a forza atomica del tipo needle-sensor sono state investigate con risoluzione nanometrica le caratteristiche topologiche di quantum dots InAs/GaAs stacked cresciuti con tecnica ALMBE, esaminandone le variazioni al variare del numero di strati ed individuando la presenza di tre famiglie distinte di quantum dots che sono state caratterizzate.
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