Caratterizzazione di componenti optoelettronici e transceiver per reti ottiche ad alta frequenza di cifra
Autore
Claudio Stazzone - Politecnico di Torino - [2005-06]
Documenti
Abstract
Si descrivono metodi di misura e procedure che permettono di capire il comportamento di dispositivi optoelettronici e transceiver al variare della temperatura e dell'alimentazione, oltre a delineare le prestazioni dell'oggetto misurato. Si sono effettuate misure di TWDP, voltage swing, Encircled Flux, CPR, DGD, BER e risposte ad alte e basse frequenze su trasduttori ottico-elettrici e viceversa, moduli transceiver di varia tipologia e comunque tutti per trasmissioni ottiche a 10 Gbit/s.
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